Chroma ATE presenta la tecnologia di test avanzata per promuovere la rivoluzione dell'intelligenza artificiale al SEMICON Taiwan 2023

Sep 17, 2023

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30 agosto 2023, 07:00 CST

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TAOYUAN, 30 agosto 2023 /PRNewswire/ -- Chroma ATE Inc., fornitore leader di apparecchiature di test automatizzate, partecipa a SEMICON Taiwan 2023. L'azienda esporrà una serie di soluzioni di test innovative con particolare attenzione all'intelligenza artificiale (AI ), applicazioni di calcolo ad alte prestazioni (HPC), automobilistiche e AIoT, con l'obiettivo di soddisfare le esigenze in continua evoluzione dei test sui semiconduttori.

Soluzioni avanzate per test SoC/analogici

Il sistema di test SoC/analogico Chroma 3650-S2 è una piattaforma di test per circuiti integrati di potenza ad alte prestazioni che soddisfa le esigenze dei moderni circuiti integrati di potenza con controllo digitale ad alta tensione, alta corrente e complessi. È dotato di un massimo di 768 I/O digitali e pin analogici con una capacità di alimentazione fino a 3000 V o 320 A, con una velocità dati di 200 Mbps e una precisione di posizionamento dei bordi (EPA) di 300 ps. È la scelta ideale per testare i circuiti integrati del sistema di gestione delle batterie al litio (BMS), i circuiti integrati di gestione dell'alimentazione (PMIC) e i circuiti integrati di alimentazione correlati a GaN e SiC.

Il sistema di test SoC avanzato Chroma 3680 soddisfa efficacemente le esigenze di test dei chip all'avanguardia utilizzati nelle tecnologie AI e automobilistiche. Il sistema fornisce fino a 2048 pin I/O con velocità dati fino a 1 Gbps, supporta fino a 16G di memoria vettoriale SCAN e offre una varietà di moduli di test tra cui gli utenti possono scegliere. Ha la capacità di eseguire simultaneamente test di logica digitale, unità di test parametrico, alimentazione, memoria, segnale misto e comunicazione wireless RF.

Soluzioni di test su chip RF

I sistemi di test automatizzati Chroma 3680/3380/3300, integrati con il tester RFIC modello 35806, offrono una soluzione completa di test dei chip a radiofrequenza (RF) che è già stata convalidata per la produzione di massa dai nostri clienti. Questa soluzione avanzata supporta una gamma di applicazioni tra cui Bluetooth, Wi-Fi, NB-IoT, nonché gli standard di comunicazione GPS/BeiDou e Tuner & PA IoT. In particolare, è dotato di un modulo VSG/VSA con larghezza di banda ad altissima frequenza con copertura che va da 300K fino a 6GHz, rendendolo adatto a un ampio spettro di standard di comunicazione wireless emergenti.

Soluzione di test Tri-Temp SLT

Chroma 31000R-L è un sistema di test Tri-Temp progettato per soddisfare i requisiti di test termici più esigenti. Con capacità di controllo stabile della temperatura che vanno da -40°C a +150°C e capacità di raffreddamento DUT (Device Under Test) fino a 1.800 W, questo sistema è la scelta ideale come soluzione di test IC Tri-Temp di fascia alta.

Il Chroma 31000R-L può essere perfettamente abbinato ai modelli Chroma come 3210, 3110, 3260 e 3200, fornendo una soluzione di test Tri-Temp SLT (System Level Test) completa adatta sia per ambienti di laboratorio che di fab. La soluzione di test Tri-Temp di Chroma si rivolge a una vasta gamma di applicazioni IC avanzate e di fascia alta, tra cui automotive, AI e data center, GPU, APU, HPC, aerospaziale e difesa. Progettato per garantire che i circuiti integrati funzionino perfettamente in ambienti difficili, questa è la scelta ottimale per i test di affidabilità dei prodotti.

Guardiano della qualità dell'isolamento per dispositivi a semiconduttore di potenza

I dispositivi a semiconduttore di potenza (ad esempio IGBT, SiC-MOSFET) vengono utilizzati in vari campi che tendono a impiegare elevata potenza/grande corrente per circuiti di conversione/controllo di potenza, mentre gli isolatori (ad esempio optoaccoppiatori, isolatori digitali) vengono utilizzati in ambienti in cui la tensione la differenza tra due lati (cioè lato primario e lato secondario) deve essere isolata. Poiché tra questi componenti compaiono differenze di tensione o differenze di potenziale più elevate, è molto importante garantire che questi componenti possano mantenere un buon isolamento di tensione in condizioni operative normali e non abbiano scariche parziali continue (PD) che possono portare al degrado dell'isolamento. Il tester per scariche parziali serie Chroma 19501 è conforme ai requisiti di misurazione PD della norma IEC 60270-1 e i metodi di test specificati nel regolamento sono stati progettati nello strumento. Può fornire test AC Hipot (max. 10kVac) e misurazione delle scariche parziali (max. 6000pC), che possono garantire efficacemente la qualità e l'affidabilità del funzionamento a lungo termine per dispositivi a semiconduttori e isolatori di potenza.